菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪

菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯(17)到铀(92)。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有:
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄杜策,例如:装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量,如测量印刷线路板
分析电镀溶液
 
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途,有不同的版本。
XDL 210 型的工作台为固定式工作台,固定位置的 Z 轴系统。
XDL 220 型的工作台为固定式工作台,马达驱动的 Z 轴系统。
XDL 230 型配有可手动操控的 X/Y 工作台,马达驱动的 Z 轴升降系统。
XDL 240 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台,当保护门开启时,工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。
 
XDL系列仪器可选配圆形或长方形准直器,采用比例接收器,测量距离为0-80mm,使用专利保护的DCM测量距离补偿法。
使用高分辨率的CCD彩色摄像头
仪器重量100kg-120kg
仪器使用时温度范围10℃-40℃,空气相对湿度为≤95%,无结露
 
计算机要求:带扩展卡的计算机系统
 
可按要求,提供额外的XDL型产品更改和XDL仪器技术咨询
QQ客服    咨询电话:18620024088